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COF 驱动芯片缺陷检测系统
针对 COF 卷带式驱动芯片的在线高速外观检测系统，适配卷对卷量产制程，实现全幅面缺陷自动识别、分类与标记。
客户价值
- • 高速线扫成像，适配卷对卷量产节拍
- • 20+ 类缺陷自动分类，支持 MES 系统对接
- • 品质数据闭环管理，助力良率优化
可检测缺陷类型
COF 变形
划伤
脏污
pad 点异色
金牙盖露铜
PIN 针断裂
R 角崩边
FC 分层/崩边
异物白点
线路短路/断路
核心参数规格
| 参数项 | 规格指标 |
|---|---|
| 检测幅宽 | 支持主流 COF 产品幅宽规格 |
| 检测速度 | 适配高速卷对卷产线节拍 |
| 缺陷分类 | 支持 20+ 类缺陷自动分类统计 |
| 系统功能 | 支持缺陷标记、数据报表、良率分析 |
核心技术优势
1
搭载自研高速线扫成像方案与 AI 缺陷识别模型，兼顾检测速度与识别精度
2
可对接客户产线 MES 系统，实现品质数据闭环管理
3
助力制程良率优化与缺陷根因定位
4
支持卷对卷连续检测，满足大规模量产需求